NI和泰克强强携手联合举办“设计、验证及测试”巡回研讨会

出 版 物：《测控自动化》 

年 卷 期：2004年第7期

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摘      要：新闻发布——2004年6月--美国国家仪器中国有限公司(National Instruments)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)联合宣布推出一系列巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛(Design，Validation，Test Forum，简称DVTF 2004)”，扩展双方的合作空间．

主 题 词：美国国家仪器中国有限公司 国有 合作 有限公司 联合 论坛 研讨会 测试 验证 设计 

学科分类：08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

馆 藏 号：203108507...