硅微陀螺仪接口位移噪声对检测性能的影响

作     者：杨波 王寿荣 周百令 YANG Bo;WANG Shourong;ZHOU Bailing

作者机构：东南大学仪器科学与工程学院 微惯性仪表与先进导航技术教育部重点实验室南京210096 

基　　金：总装备部"十一五"预研项目(6922002055) 教育部博士点新教师基金(200802861063) 船舶工业国防预研基金(6922001045) 

出 版 物：《固体电子学研究与进展》 (Research & Progress of SSE)

年 卷 期：2009年第29卷第3期

页      码：455-459页

摘      要：研究了基于调制解调的硅微陀螺仪检测信号提取原理,推导了开环检测传递函数。根据调制解调的频谱转移特性,提出了有效位移噪声是高斯窄带噪声。推导了开环检测时位移噪声的等效角速度公式,分析表明,要提高噪声性能可以减小噪声功率密度、带宽和增加陀螺仪机械灵敏度。同时还推导了闭环检测时位移噪声的等效角速度公式。通过比较开环检测和闭环检测情况下由接口位移噪声导致的噪声等效角速度表明:闭环检测并不能减少由接口位移噪声导致的平均噪声等效角速度。据此设计实际电路,试验结果表明在100Hz频段内,闭环检测噪声谱密度基本等于开环检测噪声谱密度,验证了理论的正确性。

主 题 词：硅微陀螺仪 位移噪声 噪声谱密度 闭环检测 

学科分类：08[工学] 081105[081105] 0811[工学-水利类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-3819.2009.03.031

馆 藏 号：203108689...