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AIMS望远镜8~10微米成像终端系统装调检测方法

AIMS望远镜8~10微米成像终端系统装调检测方法

作     者:王雅琦 冯志伟 白先勇 张志勇 孙英姿 荀辉 沈宇樑 邓元勇 Wang Yaqi;Feng Zhiwei;Bai Xianyong;Zhang Zhiyong;Sun Yingzi;Xun Hui;Shen Yuliang;Deng Yuanyong

作者机构:中国科学院国家天文台北京100101 中国科学院大学北京100049 中国科学院国家天文台太阳活动重点实验室北京100101 中国科学院国家天文台天文光学重点实验室北京100101 中国科学院上海技术物理研究所上海200083 

基  金:国家自然科学基金(11427901 11973061 11873062 11673038)资助 

出 版 物:《天文研究与技术》 (Astronomical Research & Technology)

年 卷 期:2022年第19卷第2期

页      码:125-133页

摘      要:针对用于太阳磁场精确测量的中红外观测系统(Accurate Infrared Magnetic field Measurements of the Sun,AIMS)望远镜8~10μm真空制冷成像终端系统的高精度装调需求,提出了一种基于中红外可调谐激光光源的宽谱段干涉检测和装调方法。首先,采用泰曼-格林干涉仪,利用参考臂可调的优势,弥补光源相干性不足的缺陷,从而实现8~10μm宽谱段的干涉测量。其次,完成了干涉仪光学系统设计,可同时兼顾8~10μm和可见光双波段的波前质量,解决了肉眼不可见给干涉仪自身装调带来的困难。设计结果表明,利用可见光激光器进行干涉仪自身装调,可达到RMS 0.05λ@0.633μm的波前精度;在8~10μm检测波段,干涉仪波前均方根优于0.001λ,可满足待测系统的检测需求。最后,基于逆向优化法仿真了8~10μm光学系统的装调流程。

主 题 词:中红外 装调检测 泰曼-格林干涉仪 逆向优化 

学科分类:080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0803[工学-仪器类] 

D O I:10.14005/j.cnki.issn1672-7673.20210826.001

馆 藏 号:203108889...

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