面向单粒子翻转效应的模拟故障注入技术

作     者：于航 王晶 周继芹 李亚 张伟功 YU Hang;WANG Jing;ZHOU Ji-qin;LI Ya;ZHANG Wei-gong

作者机构：首都师范大学信息工程学院北京100048 首都师范大学北京市高可靠嵌入式系统技术工程研究中心北京100048 北京数学与信息交叉科学2011协同创新中心北京100048 成像技术北京市高精尖创新中心北京100048 

基　　金：国家自然科学基金项目(61472260) 国家自然科学基金青年基金项目(61402302) 北京市自然科学基金项目(4132016) 

出 版 物：《计算机工程与设计》 (Computer Engineering and Design)

年 卷 期：2016年第37卷第1期

页      码：107-111,131页

摘      要：通过分析基于VHDL模拟故障注入技术对SEU故障注入的不足,提出一种基于VHDL与C语言混合的注入方法。在此基础上,设计实现一款面向SEU的仿真故障注入平台,对该平台的结构及主要模块进行详细的描述。以LEON 2处理器为目标系统进行故障注入实验,实验结果验证了该平台能够实现有效的故障注入。

主 题 词：故障注入 单粒子翻转效应 标准硬件描述语言 C语言 可靠性验证 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16208/j.issn1000-7024.2016.01.021

馆 藏 号：203108977...