基于TestCenter的仪表转接机制设计与实现

作     者：艾俊伟 黄元波 AI Junwei;HUANG Yuanbo

作者机构：武汉邮电科学研究院武汉430074 烽火通信科技股份有限公司武汉430073 

基　　金：烽火通信股份有限公司(项目名称:无源光网络中的25G/100G混合光子集成芯片及模块项目)(编号:2018YFB2201300) 

出 版 物：《网络新媒体技术》 (Network New Media Technology)

年 卷 期：2022年第11卷第1期

页      码：67-72页

摘      要：随着包处理芯片设计的需求不断扩大,芯片验证环节的复杂性和难度的提高。一个完整芯片的验证过程会涉及到虚拟功能模型,寄存器传输级RTL,FPGA原型验证不同类型。在进行虚拟功能模型和RTL的验证时会以虚拟仪表的方式进行数据包收发的驱动,FPGA原型验证则以真实仪表的方式进行数据包收发驱动。一旦测试场景发生改变,需要重新编写测试用例,降低测试效率。本文针对验证的重用性差,效率低下等缺点设计了一种虚拟测试仪表,利用TCL语言实现测试脚本和转接脚本,结合网络测试仪表TestCenter实现设计虚拟仪表和真实仪表的转换机制,使得测试用例的可重用性提高,易回归,缩短不同验证阶段的时间。

主 题 词：自动化测试 虚拟仪表 TestCenter 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.2095-347X.2022.01.009

馆 藏 号：203109133...