平面左手结构色散与传播特性分析

作     者：李超 刘潇 李芳 隋强 LI Chao;LIU Xiao;LI Fang;SUI Qiang

作者机构：中国科学院电子学研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 中国传媒大学信息工程学院北京100024 

基　　金：国家重点基础研究发展规划(973计划)项目(No.2004CB719800) 国家自然科学基金项目(No.60501018) 教育部科学技术研究重点项目(No.106040) 中国科学院知识创新工程青年人才领域前沿项目资助 

出 版 物：《电波科学学报》 (Chinese Journal of Radio Science)

年 卷 期：2009年第24卷第1期

页      码：9-14页

摘      要：采用时域有限差分方法研究了一种新型平面结构阵列在左手频带内的后向波传播特性与负折射特性,提出分析二维平面左手结构的新方法:基于单元结构的四端口网络参数进行Bloch分析,得出色散关系和Bloch阻抗;根据色散关系和Bloch阻抗分析相位与能量传播方向的关系,以确定出左右手特性频带。相比于以往单元结构分析方法,本文方法利于单元结构的灵活设计,能较好地考虑分布参数元件色散特性,能简便准确地判断出左右手特性频带,且能用于分析各向异性和有损耗结构。仿真分析结果验证了方法的有效性。

主 题 词：平面左手结构 Bloch波数 Bloch阻抗 后向波 负折射 

学科分类：11[军事学] 0810[工学-土木类] 1105[1105] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081002[081002] 110503[110503] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-0388.2009.01.002

馆 藏 号：203109389...