基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术

作     者：余永涛 王小强 余俊杰 陈煜海 罗军 YU Yongtao;WANG Xiaoqiang;YU Junjie;CHNE Yuhai;LUO Jun

作者机构：工业和信息化部电子第五研究所广州511300 

基　　金：广东省重点领域研发计划(2018B010142001) 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2022年第22卷第3期

页      码：35-40页

摘      要：微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程、低功耗等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片在线测试是保证产品质量的重要技术手段,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片在线测试的难点。针对一款32位高性能MCU芯片,基于J750Ex-HD型集成电路ATE测试系统开展了MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了MCU芯片内部的POR/PDR、GPIO、ADC、Trimming、存储器等功能模块的功能性验证方法。按照MCU在线测试方法流程,设计制作了MCU芯片测试适配器,开发了基于VBT编程的芯片测试程序,实现了批量MCU芯片的在线测试。

主 题 词：微控制单元 ATE测试系统 功能测试 修调测试 ADC测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0311

馆 藏 号：203109420...