基于扫描D触发器的可逆电路测试综合方法

作     者：胡靖 温殿忠 Hu Jing;Wen Dianzhong

作者机构：黑龙江大学电子科学与技术博士后流动站哈尔滨150080 黑龙江大学集成电路重点实验室哈尔滨150080 

基　　金：山东省中青年科学家科研奖励基金项目(BS2009DX024) 黑龙江省教育厅基金项目(12511373) 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2012年第24卷第3期

页      码：420-426页

摘      要：为了实现可逆逻辑电路的可测性设计,充分利用可逆逻辑电路中存在的输出引脚,提出一种可逆逻辑电路测试综合方法.通过定义可逆逻辑门的可观性值和可控性值的计算方法,对可逆逻辑电路的可测性进行建模;通过插入观察点,制定了可逆组合逻辑电路可测性实现方案;通过对现有的D触发器进行改造并构建全新的扫描D触发器,制定了可逆时序电路的可测性逻辑实现方案;最后分析了扫描D触发器的工作特点,规范了测试步骤,建立一种可逆逻辑电路的测试综合方法.实验结果表明,与现有方法相比,文中方法插入观察点代价平均增加不到1%,但电路的可观性平均能得到24%的改善.

主 题 词：测试综合 可测性设计 可逆电路 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 0811[工学-水利类] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-9775.2012.03.020

馆 藏 号：203109471...