预充电型鉴频鉴相器pt-PFD的分析与改进

作     者：谭润钦 史江一 马晓华 

作者机构：西安电子科技大学微电子研究所西安710071 

出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)

年 卷 期：2004年第9期

页      码：56-58,73页

摘      要：图1中的pt-PFD是人们在1995年提出来的,然而至今,几乎所有的文献(包括原文献)都认为这种pt-PFD在零相差附近存在死区。笔者通过分析发现这个死区是可以通过合理地设计电路中的器件尺寸来去除。本文先对pt-PFD的工作原理作了详细的分析,并推导出了去除死区的方法。文章最后还给出了基于HSPICE的仿真结果。

主 题 词：鉴频鉴相器 死区 仿真结果 相差 充电 器件 电路 推导 尺寸 

学科分类：080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-0107.2004.09.025

馆 藏 号：203109511...