一种可编程式模拟芯片自动测试方法及其应用

作     者：李演明 黄晟睿 邓新安 张春红 沈宇衡 LI Yanming;HUANG Shengrui;DENG Xin’an;ZHANG Chunhong;SHEN Yuheng

作者机构：长安大学电子与控制工程学院陕西西安710064 

基　　金：陕西省重点研发计划项目(2019ZDLGY15-04-02) 西安市科技计划项目(201805045YD23CG29(2)) 国家自然科学基金项目(61704009) 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2022年第45卷第8期

页      码：29-34页

摘      要：针对电池保护芯片的传统测试方法的缺点和测试需求,文中基于ACCOTEST STS8200测试平台,设计一种用于电池保护芯片的自动测试方案。首先分析电池保护芯片的过充、过放、过流及过温等功能测试需求,给出测试电路;然后针对芯片的各项关键指标依次设计测试程序,并提出一种基于可编程控制的OTP Trimming算法;最后,设计测试板并在测试机上进行测试验证。文中提出的测试方案采用软件菜单选项和野口转接板设计方法,可大大缩短芯片测试的开发周期。结果表明,在测试31 631颗芯片后,芯片的测试良率为99.35%,且Trimming后数据的均值为2 254 mV,标准差为1.766。说明文中测试方案有效且可靠性较高,达到了可编程控制的灵活性要求。

主 题 词：模拟芯片 自动测试方法 OTP Trimming技术 芯片功能测试 测试板设计 测试验证 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16652/j.issn.1004-373x.2022.08.006

馆 藏 号：203109791...