扫描设计中扫描链的优化

作     者：叶波 郑增钰 

作者机构：复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：1996年第8卷第4期

页      码：282-287页

摘      要：提出了扫描法可测性设计中扫描链的优化方法。采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解。对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。

主 题 词：扫描设计 扫描链 可测性 集成电路 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

馆 藏 号：203110094...