看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >反馈式ECL记忆门的记忆性能和移位计数器 收藏
反馈式ECL记忆门的记忆性能和移位计数器

反馈式ECL记忆门的记忆性能和移位计数器

作     者:刘莹 方倩 方振贤 Liu Ying;Fang Qian;Fang Zhenxian

作者机构:黑龙江大学电子工程学院哈尔滨150080 同济大学电子与信息工程学院上海201804 

基  金:黑龙江省高校重点实验室基金(批准号:ZDDZ2006-10) 黑龙江省科技攻关计划(批准号:GC02A121)资助项目~~ 

出 版 物:《Journal of Semiconductors》 (半导体学报(英文版))

年 卷 期:2006年第27卷第12期

页      码:2184-2189页

摘      要:经过数学论证表明,改进反馈式ECL(MFECL)门可在二个状态中任一态保持稳定,所以认为MFECL门就是一种ECL记忆门或D锁存器.提出了一种由两个ECL记忆门组成的ECL主从D触发器.在上述理论基础上,利用此主从D触发器设计出5进制移位型计数器.经过计算机模拟上述电路,验证了理论和电路的正确性.

主 题 词:反馈式ECL记忆门的记忆性能 D锁存器 主从D触发器 5进制移位型计数器 

学科分类:080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录:

D O I:10.3969/j.issn.1674-4926.2006.12.023

馆 藏 号:203110126...

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分