基于SV的NAND Flash控制器功能验证

作     者：吴录辉 颜炳佳 

作者机构：合肥工业大学安徽 合肥 

出 版 物：《传感器技术与应用》 (Journal of Sensor Technology and Application)

年 卷 期：2022年第10卷第2期

页      码：91-98页

摘      要：随着存储工艺的发展,NANDFlash存储架构被提出后,凭借存储量大,读写速度快等优势,迅速成为存储介质的首选。目前,存储系统通过控制器完成与Flash闪存颗粒的交互,但随着存储数据越来越巨大,NAND Flash控制器的稳健性、完备性也越来越受重视。本文采用System Verilog语言搭建测试环境,并结合SVA断言技术提出新的验证策略,即收集代码覆盖率、功能覆盖率、断言覆盖率三个重要指标,对NAND Flash控制器模块进行全面有效的验证,确保同步时钟单通道模式下,控制器使用双FSM设计依然符合设计要求。

主 题 词：System Verilog SVA 功能覆盖率 断言覆盖率 NAND Flash 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.12677/JSTA.2022.102012

馆 藏 号：203110304...