统计公差与表面粗糙度的统计评定

作     者：高咏生 熊峰 李柱 

作者机构：香港科技大学机械工程系 华中科技大学机械科学与工程学院湖北武汉430074 

基　　金：国家自然科学基金资助项目 !(编号 :5 9975 0 35 ) 

出 版 物：《工程设计学报》 (Chinese Journal of Engineering Design)

年 卷 期：2000年第7卷第4期

页      码：68-71页

摘      要：系统分析了现行几何公差标准及其体系的缺点 ,提出统计公差的特征及其合理性 ,明确提出“统计公差即统计参数的公差” ,指出“统计公差是几何公差的发展方向” ,并以表面粗糙度统计评定的发展说明统计公差的优越性。

主 题 词：统计公差 统计参数 表面粗糙度 统计评定 

学科分类：08[工学] 0804[工学-材料学] 

核心收录：

D　O　I：10.3785/j.issn.1006-754X.2000.04.020

馆 藏 号：203110949...