系统芯片IP核透明路径构建中的可测性分析

作     者：邢建辉 王红 杨士元 成本茂 XING Jianhui;WANG Hong;YANG Shiyuan;CHENG Benmao

作者机构：清华大学自动化系北京100084 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(90207016) 

出 版 物：《计算机工程》 (Computer Engineering)

年 卷 期：2007年第33卷第3期

页      码：6-8,14页

摘      要：系统芯片的设计方法为测试技术带来新挑战。知识产权模块(IP核)测试访问机制成为测试复用的关键。构建IP核透明路径会对电路的故障覆盖率产生影响。基于门级透明路径的构建方法,通过分析插入电路的控制门和多路器的激活和传播条件,对路径构建对于IP核单固定型故障覆盖率的影响进行分析,给出可测性条件和故障覆盖率的计算公式,无需故障仿真即可估计构造透明路径后电路的故障覆盖率。通过故障仿真实验,证明该故障覆盖率的分析和计算方法是有效的。

主 题 词：系统芯片 测试访问机制 透明路径 IP核 可测性分析 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-3428.2007.03.003

馆 藏 号：203111674...