FT51:一种容软错误高可靠微控制器

作     者：龚锐 陈微 刘芳 戴葵 王志英 GONG Rui;CHEN Wei;LIU Fang;DAI Kui;WANG Zhi-Ying

作者机构：国防科技大学计算机学院长沙410073 

基　　金：国家自然科学基金(90407022)资助.~~ 

出 版 物：《计算机学报》 (Chinese Journal of Computers)

年 卷 期：2007年第30卷第10期

页      码：1662-1673页

摘      要：文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51．首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构，采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转（SEU）和组合逻辑单事件瞬态（SET）进行防护．所有的片内存储器采用Hamming编码进行防护．针对现有控制流检测的不足，该设计采用了软硬件结合的控制流检测与恢复机制．FT51在HJTC0．25μm工艺下进行了实现，与未经加固的版本相比，其额外的面积开销为80．6％，额外的性能开销为19％～133％．文中还提出了一种微处理器可靠性评估框架，在此框架下通过模拟和理论推导证明：典型情况下FT51的故障检出和屏蔽率为99．73％．

主 题 词：微控制器 软错误 单事件翻转 单事件瞬态 时空三模冗余 控制流检测 

学科分类：0810[工学-土木类] 0808[工学-自动化类] 0839[0839] 08[工学] 0835[0835] 0811[工学-水利类] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:0254-4164.2007.10.003

馆 藏 号：203111684...