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基于多锥晶体的多能点X射线光谱仪

基于多锥晶体的多能点X射线光谱仪

作     者:施军 赵雨鑫 黎淼 王拂晓 王峰 尚万里 杨国洪 韦敏习 SHI Jun;ZHAO Yuxin;LI Miao;WANG Fuxiao;WANG Feng;SHANG Wanli;YANG Guohong;WEI Minxi

作者机构:重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆400044 重庆邮电大学光电工程学院重庆400065 中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川绵阳621900 

基  金:等离子体物理重点实验室基金(6142A04180207) 重庆市留学创新基金(cx2018023) 国家自然科学基金(61604028)资助项目 

出 版 物:《光电子.激光》 (Journal of Optoelectronics·Laser)

年 卷 期:2022年第33卷第4期

页      码:342-348页

摘      要:为了克服传统弯曲晶体光谱仪存在检测的像差问题,基于衍射聚焦X射线特征能量谱范围、衍射光源位置、聚焦成像距离等关键的物理参数,设计了具有高光谱分辨力及宽光谱检测范围的多锥晶体X射线谱仪。从结构原理上讨论了该光谱仪的特点,研制完成了连续光滑的多锥表面X射线衍射聚焦弯曲晶体,通过单次X射线衍射聚焦诊断实验即能实现不同能量X射线无像差检测。对Ti的K_(α)与K_(β)射线光谱进行了多次衍射聚焦检测实验,获得了不同聚焦成像位置下的K_(α)与K_(β)特征谱线强度分布,并完成了光谱仪谱线聚焦能力与光谱分辨力分析。根据晶体对X射线聚焦程度与成像位置的关系,进行了不同聚焦成像位置处连续锥面光谱仪的聚焦性能分析,确定了最佳聚焦位置。实验结果表明:多锥晶体X射线光谱仪的聚焦能力得到显著提升,能谱检测范围可以覆盖4.51—5.14 keV,且在较大尺寸光源基础上仍能保证光谱分辨力达到600以上。

主 题 词:X射线光谱 多锥晶体 光谱范围 聚焦能力 

学科分类:07[理学] 070204[070204] 0702[理学-物理学类] 

核心收录:

D O I:10.16136/j.joel.2022.04.0548

馆 藏 号:203111711...

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