一种具有高线性度MOS采样开关的采样保持电路

作     者：吴楚彬 张章 於昌虎 解光军 WU Chubin;ZHANG Zhang;YU Changhu;XIE Guangjun

作者机构：合肥工业大学电子科学与与应用物理学院合肥230009 

基　　金：教育部高等学校博士学科点专项科研基金项目(20120111120008) 国家重点实验室开放课题基金项目(11KF001) 合肥工业大学博士专项基金项目(2011HGBZ0953) 

出 版 物：《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)

年 卷 期：2013年第36卷第5期

页      码：651-655页

摘      要：提出了一种具有高线性度MOS采样开关的采样保持电路。该电路通过运放的共享,在采样阶段对开关管的栅极引入负反馈,有效地抑制开关导通电阻引入的非线性,实现了高性能的采样保持电路。该电路采用SMIC 0.13μm标准CMOS工艺设计,仿真结果表明:在采样阶段,导通电阻大约只有0.2Ω的变化;在采样时钟为80 MHz,输入信号为30 MHz、0.5V pp时,无杂散动态范围(SFDR)达到了116 dB,比传统自举开关的SFDR提高了34 dB。

主 题 词：采样保持电路 采样开关 运放复用 非线性 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-9490.2013.05.016

馆 藏 号：203111948...