大功率晶闸管器件加速老化试验和寿命预测方法研究

作     者：张西应 曾文彬 操国宏 彭军华 孙文伟 刘雅岚 Zhang Xi-ying;Zeng Wen-bin;Cao Guo-hong;Peng Jun-hua;Sun Wen-wei;Liu Ya-lan

作者机构：株洲中车时代半导体有限公司湖南株洲412000 新型功率半导体器件国家重点实验室湖南株洲412000 

出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)

年 卷 期：2022年第5期

页      码：64-68页

摘      要：大功率半导体器件是直流输电、牵引传动与工业变流等系统的核心部件,如何有效地评估器件工作状态并准确预测其剩余使用寿命,是提升系统工作可靠性的关键难题。该文通过对比不同的加速老化试验方法和寿命预测模型,采用现场工况与仿真相结合的方法,设计了一套热循环负载加速老化试验方案。根据试验结果,该文选取科菲-曼森模型对数据进行分析处理,得到优化的寿命预测定量模型。最后,结合应用现场实际疲劳失效数据,对寿命预测模型进行了校验和改进,使该模型更贴近高功率系统的应用工况,提高了寿命预测模型的准确性和可靠性。

主 题 词：功率半导体器件 加速老化试验 寿命预测模型 疲劳失效 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-0107.2022.05.015

馆 藏 号：203112088...