基于GA-DE算法的开孔外壳屏蔽效能预测与优化

作     者：赵旭东 王一凡 赵阳 张哲民 陈泽南 刘守城 Zhao Xudong;Wang Yifan;Zhao Yang;Zhang Zhemin;Chen Zenan;Liu Shoucheng

作者机构：南京师范大学南瑞电气与自动化学院江苏南京210023 江苏省电气装备与电磁兼容工程实验室江苏南京210023 江苏益邦电力科技有限公司江苏南京210001 南京四方亿能电力自动化有限公司江苏南京210001 

基　　金：江苏省社会发展重点项目(BE2019716) 电网环境保护国家重点实验室开发基金项目(GYW51202001558) 

出 版 物：《南京师范大学学报（工程技术版）》 (Journal of Nanjing Normal University(Engineering and Technology Edition))

年 卷 期：2022年第22卷第2期

页      码：9-14页

摘      要：电子设备工作频率的提高,导致电磁辐射噪声日益严重,外壳屏蔽辐射噪声是最为有效的方法.然而,由于散热和接线,外壳会带有孔洞,极大地影响了其屏蔽效能.对开孔外壳建模,通过CST仿真得到外壳屏蔽效能的结果,根据仿真结果利用传输线等效电路模型及遗传-进化差分(genetic algorithm-differential evolution,GA-DE)算法进行参数提取,对比屏蔽效能仿真结果和算法结果,证明算法结果的准确性和可靠性,并探究了离开孔面的距离对屏蔽效能的影响,对实际屏蔽设计具有重要意义.

主 题 词：电磁辐射 屏蔽效能 传输线理论 GA-DE算法 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-1292.2022.02.002

馆 藏 号：203112358...