基于双方差随机过程的半导体激光器寿命评估

作     者：李军星 李燕科 牛凯岑 邱明 王治华 庞晓旭 陈立海 LI Jun-xing;LI Yan-ke;NIU Kai-cen;QIU Ming;WANG Zhi-hua;PANG Xiao-xu;CHEN Li-hai

作者机构：河南科技大学机电工程学院河南洛阳471003 机械装备先进制造河南省协同创新中心河南洛阳471003 北京航空航天大学航空科学与工程学院北京100083 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(52005159) 国家重点研发计划资助项目(2019YFB2004403) 河南省科技攻关计划资助项目(222102220061,202102210083) 河南省高等学校青年骨干教师培养计划资助项目(2021GGJS048) 

出 版 物：《工程设计学报》 (Chinese Journal of Engineering Design)

年 卷 期：2022年第29卷第3期

页      码：293-299页

摘      要：针对高可靠、长寿命半导体激光器的寿命评估问题,提出了基于双方差随机过程的性能退化评估方法。该方法不仅考虑了半导体激光器内部失效机理的固有随机性,还考虑了由人为因素、测量仪器等引起的测量随机误差。首先,建立了半导体激光器性能退化模型及其未知参数的极大似然估计方法。然后,基于首达时的概念给出了失效时间分布函数和概率密度函数的解析表达式,以对半导体激光器的可靠性和寿命进行评估。最后,通过半导体激光器寿命评估工程实例验证了所提出方法的适用性和有效性。结果表明:与现有的性能退化模型相比,所构建模型的拟合效果更好,能够提高寿命评估精度。这可为半导体激光器及其整机系统最优维修决策的制定提供有力支撑。

主 题 词：半导体激光器 寿命评估 双方差随机过程 性能退化 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0802[工学-机械学] 080201[080201] 

核心收录：

D　O　I：10.3785/j.issn.1006-754X.2022.00.042

馆 藏 号：203112727...