微波组件测试系统安全性策略

作     者：孔令华 陈兆国 徐欣欢 

作者机构：南京电子技术研究所江苏南京210039 

出 版 物：《数据》 (DATA)

年 卷 期：2022年第4期

页      码：54-56页

摘      要：微波组件测试系统具有自动控制、自动采集、数据处理等功能,可实现组件的高效率、高精度、多通道、全指标测量,是微波组件批量生产的重要模式。在测试系统的研制和使用过程中,存在一些常发故障,影响了测试系统的推广使用。本文系统重点阐述了测试系统的安全性设计原则、常见故障分类,并提出了相应安全性策略,进而提出了测试系统软、硬件的改进措施,并结合实际案例验证了改进措施的有效性。

主 题 词：微波组件 测试系统 安全性策略 信号中枢 信号过载 

学科分类：08[工学] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203112976...