准确检测半导体器件 灵活信号源施展身手

作     者：Gary McFarlane 

作者机构：泰克公司 

出 版 物：《电子测试（新电子）》 (Micro-Electronics)

年 卷 期：2006年第3期

页      码：85-90页

摘      要：复杂度和工作频率提高一直是半导体技术演进的一个重要因素,这给最终用户带来了很大好处,但也给测试新器件的设计人员或测试工程师带来了挑战。由于复杂性和工作频率不断增长,工程师必须找到能够全面满足被测设备需求、而又经济高效的测量解决方案。本文将专门介绍信号源在半导体测量应用中的使用,考察信号源测量仪器如何帮助用户精确地测试基本半导体设备的性能特点。

主 题 词：半导体器件 信号源 工作频率 技术演进 最终用户 设计人员 设备需求 工程师 复杂度 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

馆 藏 号：203113179...