基于JTAG的SoC芯片调试系统设计

作     者：虞致国 魏敬和 YU Zhi-guo;WEI Jing-he

作者机构：中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2007年第7卷第7期

页      码：24-27,48页

摘      要：文章提出了一种基于IEEE 1149.1 JTAG协议的SoC调试接口,该设计支持寄存器查看和设置、CPU调试、IP核调试、边界扫描测试等功能。对该接口的整体结构框图到设计都进行了详细的阐述。该接口成功地应用于测控SoC中,具有很好的参考价值。

主 题 词：系统芯片 JTAG 调试接口 扫描链 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-1070.2007.07.007

馆 藏 号：203113216...