设计与测试合而为一

作     者：Rick Nelson 

作者机构：EDN 

出 版 物：《电子设计技术 EDN CHINA》 (EDN CHINA)

年 卷 期：2008年第15卷第9期

页      码：32-32页

摘      要：高效的设计与测试策略需要整个芯片设计和生产生态系统全面努力。 设计和测试部门是否正趋向于融合？在阅读最近一些新闻报道时，您可能会产生这一想法。我曾在一篇早期的评论中提到过设计与测试的关系的问题（参考文献1）。该评论是对此前执行编辑Ron Wilson发表的一篇文章所做的回应（参考文献2）。我坚持自己在今年3月20日发表的文章中得出的结论，即“认为嵌入式仪器会将外置仪器淘汰的想法是错误的”。但是近期的新闻和事件均表明：嵌入式仪器将继续侵入市场。

主 题 词：芯片设计 测试策略 新闻报道 参考文献 生态系统 嵌入式 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203113253...