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低频强磁场屏蔽效能的测试方法与测试设备研制

低频强磁场屏蔽效能的测试方法与测试设备研制

作     者:高成 刘晓 石立华 周璧华 GAO Cheng;LIU Xiao;SHI Li-hua;ZHOU Bi-hua

作者机构:解放军理工大学工程兵工程学院 中国人民解放军96544部队 

基  金:国家自然科学基金(60971063) 

出 版 物:《高电压技术》 (High Voltage Engineering)

年 卷 期:2010年第36卷第9期

页      码:2272-2277页

摘      要:为了合理评估屏蔽体对低频强磁场的屏蔽效果,为工程中屏蔽室质量验收提供必要的检测手段,根据小环天线法测量电磁屏蔽室屏蔽效能的原理,提出了低频强磁场屏蔽效能测试系统的整体结构和设计方案,研制了以PIC16F73单片机为核心的低频大电流源,设计和制作了磁场发射、接收环天线,构建了低频强磁场屏蔽效能测试设备;采用研制的测试设备对屏蔽室进行了屏蔽效能实测。测试结果与理论值符合较好,表明测试设备能够满足实际测量的需要,同时验证了计算结果的可信性。

主 题 词:低频磁场 低频大电流源 屏蔽 屏蔽效能 测试设备 小环天线 单片机 低阻抗磁场 

学科分类:080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录:

D O I:10.13336/j.1003-6520.hve.2010.09.037

馆 藏 号:203113344...

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