面向综合诊断的电子装备测试资源优化分配

作     者：杜敏杰 蔡金燕 刘利民 DU Minjie;CAI Jinyan;LIU Limin

作者机构：军械工程学院光学与电子工程系石家庄050003 

基　　金：河北省重点基础研究项目(10963529D) 

出 版 物：《电光与控制》 (Electronics Optics & Control)

年 卷 期：2013年第20卷第1期

页      码：74-76,88页

摘      要：针对综合诊断思想对电子装备测试资源分配的新要求,在测试点优化的基础上,建立了装备BITE与ATE优化分配的模型。该模型以测试代价最小为优化目标,以故障检测率、故障隔离率及虚警率为约束条件并通过LINGO求解。结果表明,该方法在满足测试性指标的同时降低了测试代价,对装备分层次设计和诊断、提高保障效率、减少寿命周期费用,具有重要意义。

主 题 词：电子装备 综合诊断 测试性 测试资源分配 机内测试设备 自动测试设备 

学科分类：08[工学] 082503[082503] 0825[工学-环境科学与工程类] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-637x.2013.01.017

馆 藏 号：203113456...