均匀添加次序设计

作     者：李文龙 李敏 周永道 杨建峰 Li Wenlong;Li Min;Zhou Yongdao;Yang Jianfeng

作者机构：南开大学统计与数据科学学院天津300071 

基　　金：国家自然科学基金(批准号:11871288和11871033) 天津市自然科学基金(批准号:19JCZDJC31100和20JCYBJC01050) 南开大学博士研究生科研创新基金资助项目 

出 版 物：《中国科学：数学》 (Scientia Sinica：Mathematica)

年 卷 期：2022年第52卷第9期

页      码：1095-1112页

摘      要：添加次序试验是指试验结果受成分或材料的添加次序影响的一类试验.本文首先基于Hamming距离,从均匀性及相似性的角度出发得到添加次序设计的离散偏差;然后给出U-型设计下的离散偏差下界,并将此作为衡量设计最优性的准则.基于该准则,本文提出一类新的设计,这类设计达到了离散偏差下界,并且称其为均匀添加次序设计.其次,本文给出均匀添加次序设计的一些构造方法,所构造的设计具有灵活的试验次数,适用于序贯试验.此外,进行列置换后的均匀添加次序设计在配对排序模型下是有效的.最后说明这些有效的设计具有优良的平衡性和投影性.

主 题 词：相遇数 离散偏差 拉丁方 均匀性 U-型设计 

学科分类：02[经济学] 0202[经济学-财政学类] 020208[020208] 07[理学] 0714[0714] 070103[070103] 0701[理学-数学类] 

核心收录：

D　O　I：10.1360/SCM-2020-0552

馆 藏 号：203114173...