基于老化特征化提取进行时序分析的解决方案

作     者：陈寒 宋存彪 吴韦忠 Chen Han;Song Cunbiao;Wu Weizhong

作者机构：中兴微电子技术有限公司后端设计部FoundationIP上海200120 

出 版 物：《电子技术应用》 (Application of Electronic Technique)

年 卷 期：2022年第48卷第8期

页      码：51-54,59页

摘      要：基于Cadence的Liberate+Tempus解决方案,采用一种先进的标准单元老化特征化的方法,同时考虑了偏置温度不稳定性(Bias Temperatrure Instability,BTI)和热载流子注入(Hot Carrier Injection,HCI)老化效应,得到标准单元老化时序库,用于Tempus进行考虑老化的静态时序分析(Aging-aware Static Timing Analysis,Aging-aware STA)。产生一套先进的标准单元老化时序库,能够针对不同标准单元不同传输路径,表征一定范围的老化应力条件的时序特征,改善了传统添加全局时序减免值导致电路PPA(Performance/Power/Area)难以收敛的问题,同时只需要调用一套标准单元库也使STA更加简洁易操作。

主 题 词：老化标准单元库 Cadence Liberate Aging Aware STA Tempus 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16157/j.issn.0258-7998.229804

馆 藏 号：203114234...