强激光辐照下光电探测器响应性能的研究

作     者：徐立君 蔡红星 李昌立 毕娟 金光勇 张喜和 XU Li-jun;CAI Hong-xing;LI Chang-li;BI Juan;JI Guang-yong;ZHANG Xi-he

作者机构：长春理工大学理学院吉林长春130022 

基　　金：国防预研基金资助项目(A3620060122) 

出 版 物：《应用光学》 (Journal of Applied Optics)

年 卷 期：2010年第31卷第6期

页      码：1018-1022页

摘      要：响应度R是反映探测器性能的一项重要指标,当探测器被强激光损伤后,光电探测器的响应度将发生改变。设计了一套实时测量探测器响应度的装置,用能量逐渐增加的Nd∶YAG激光辐照PIN光电探测器,获得了探测器响应度与入射强激光功率密度的变化关系。从实验数据可知,探测器被功率密度低于7.6×105W/cm2的激光辐照后不会发生损伤,探测器对532 nm参考光的响应度不变;当激光的功率密度超过1.27×106W/cm2时,激光辐照后,探测器对532 nm参考光的响应度开始下降,当探测器被功率密度为6.01×106W/cm2的激光辐照后,响应度迅速下降,PN结遭到破坏是探测器响应度下降的根本原因,扫描电镜的结果与我们的分析相一致。

主 题 词：激光物理 响应度 光电探测器 短路电流 激光辐照 

学科分类：070207[070207] 07[理学] 0702[理学-物理学类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-2082.2010.06.030

馆 藏 号：203114239...