基于加速模型的光耦寿命评估技术研究

作     者：刘树强 何继夫 赵鹏飞 韩立帅 LIU Shuqiang;HE Jifu;ZHAO Pengfei;HAN Lishuai

作者机构：工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心广东广州511370 工业和信息化部电子第五研究所装备与整机研究部广东广州511370 工业和信息化部电子第五研究所广东广州511370 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2022年第40卷第S2期

页      码：19-22页

摘      要：光耦作为电网中的关键控制部件,其使用寿命直接决定了电网的质量与传输效率,因此,如何评估其使用寿命及技术显得非常重要。以国外某公司的光耦为例,通过分析导致其退化的敏感应力,设计了4组基于湿热的加速寿命试验,并通过数学建模对试验数据进行了分析。最后,对实际工作条件下的外场寿命进行了外推,结果表明,该方法能够准确地预测光耦寿命,对同类产品寿命评估具有一定的参考作用。

主 题 词：光耦 退化 加速寿命试验 外场寿命 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2022.S2.005

馆 藏 号：203114462...