基于吸收光谱技术的制冷剂膜厚测量系统研制

作     者：孔帅帅 许晓妍 孙昊 方奕栋 苏明旭 杨荟楠 Kong Shuaishuai;Xu Xiaoyan;Sun Hao;Fang Yidong;Su Mingxu;Yang Huinan

作者机构：上海理工大学能源与动力工程学院上海200093 

基　　金：国家自然科学基金(51676130) 上海市自然科学基金(20ZR1438900) 

出 版 物：《中国激光》 (Chinese Journal of Lasers)

年 卷 期：2022年第49卷第17期

页      码：59-64页

摘      要：制冷剂液膜蒸发现象广泛地存在于航空航天、制冷空调和消费电子等领域,高精度定量分析液膜厚度对于了解液膜分布情况、揭示液膜传热规律及优化相关工业过程至关重要。将R1233zd作为研究对象,提出一种基于吸收光谱技术的制冷剂液膜厚度测量新方法。首先获取了不同温度(11.8,13.5,15.2,16.5,18.0℃)下R1233zd的吸收光谱,构建液膜厚度反演模型,并研制膜厚测量系统。利用厚度可调(0~800μm)的标准具对该系统的测量精度进行验证。进一步结合图像法对水平石英玻璃板上的R1233zd液膜蒸发过程进行研究,发现两种方法测得的液膜厚度随时间的变化趋势吻合良好。该系统实现了R1233zd液膜蒸发过程中膜厚的高精度测量,有望为相关工业过程的设计和优化提供数据支撑。

主 题 词：测量 吸收光谱 膜厚 蒸发 

学科分类：080702[080702] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3788/CJL202249.1704004

馆 藏 号：203114527...