中央处理器安全测试与自修复技术研究

作     者：周永忠 洪晟 姜义初 顾爽 李雷 刘亮 高欣妍 阴宏伟 岳天羽 Zhou Yongzhong;Hong Sheng;Jiang Yichu;Gu Shuang;Li Lei;Liu Liang;Gao Xinyan;Yin Hongwei;Yue Tianyu

作者机构：北京智芯微电子科技有限公司数字芯片设计中心北京100192 北京航空航天大学网络空间安全学院北京100191 北京航空航天大学未来空天技术学院/高等理工学院北京100191 

基　　金：国家重点研发计划(2019YFB1706001) 

出 版 物：《电子技术应用》 (Application of Electronic Technique)

年 卷 期：2022年第48卷第9期

页      码：39-43,49页

摘      要：中央处理器在工业控制领域起到重要作用,其正常工作是工业控制中的重要稳定运行保障。主要研究中央处理器的安全测试与自修复相关技术。从故障注入到故障测试再到自修复,对相关安全技术作了比较介绍与分类总结,包括硬软件的故障注入技术、扫描链、内建自测试、TSV等故障测试方法,以及以替代修复和容错自修复技术。最后提出中央处理器安全协同模型,对各个技术的基本原理和创新点做出归纳总结,为未来中央处理器的故障处理技术发展提供安全设计全参考,在保证安全和性能的同时降低成本和能耗,助力工控设备安全稳定运行。

主 题 词：中央处理器 故障注入 安全测试 自修复 安全协同模型 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16157/j.issn.0258-7998.222712

馆 藏 号：203114528...