基于GPIB总线的芯片测试系统开发与应用

作     者：林晨 艾博 宗俊吉 LIN Chen;AI Bo;ZONG Junji

作者机构：中国电子科技集团公司第四十五研究所北京100176 

出 版 物：《电子工业专用设备》 (Equipment for Electronic Products Manufacturing)

年 卷 期：2022年第51卷第4期

页      码：23-27页

摘      要：介绍了GPIB接口系统的功能及其应用;利用计算机、GPIB总线、测试仪器组成芯片测试系统,阐述了该系统的软件流程;最后总结了软件设计对芯片测试系统控制、数据采集和实时显示的效果。

主 题 词：通用接口总线(GPIB) 测试系统 数据采集 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-4507.2022.04.006

馆 藏 号：203114555...