单片微控制器系统的静电放电敏感性研究

作     者：宋学君 张希军 刘尚合 SONG Xue-jun;ZHANG Xi-jun;LIU Shang-he

作者机构：军械工程学院静电与电磁防护研究所 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60671044) 

出 版 物：《河北大学学报（自然科学版）》 (Journal of Hebei University(Natural Science Edition))

年 卷 期：2007年第27卷第6期

页      码：630-633页

摘      要：分别以2种常用的微控制器芯片80C196和AT89C51为核心设计的2种单片微控制器系统做为目标测试板,利用静电放电电磁脉冲分别对这2种系统进行静电放电效应实验研究,并对其失效机理进行分析.实验结果表明,80C196单片微控制器系统对静电放电比89C51单片微控制器系统敏感,单片机系统在静电放电电磁脉冲作用下出现死机、跳转、重启动、RAM内容改写等功能失效现象.

主 题 词：单片机系统 静电放电 电磁脉冲敏感性 

学科分类：0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-1565.2007.06.016

馆 藏 号：203114761...