基于可靠性及噪声约束的电源/地线优化设计

作     者：李春辉 范明钰 庄昌文 虞厥邦 黄劲 CHEN Xu-yun;ZHENG Jin-shan;ZHOU Ting;ZHANG Qian-ling;HUANG Jin

作者机构：电子科技大学光电子技术系 AmbowCorp. 

基　　金：中国博士后基金资助项目 

出 版 物：《Journal of Semiconductors》 (半导体学报（英文版）)

年 卷 期：2000年第21卷第8期

页      码：816-821页

摘      要：电源 /地线 ( P/G)拓扑结构的优化设计是超大规模集成电路 ( VLSI)中直接影响芯片性能的一个非常重要的问题 .通过对考虑可靠性及噪声的各项约束条件的分析 ,提出了一种时间复杂度为 O( N2m)基于最小代价生成树 ( MST)和改进的 Prim算法的快速构造算法 .实验结果表明 。

主 题 词：电源线/地线 可靠性 噪声约束 集成电路 VLSI 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-4926.2000.08.016

馆 藏 号：203114977...