暂态过电压预处理对氧化锌压敏电阻冲击性能的影响

作     者：张欣 杨天琦 周北平 ZHANG Xin;YANG Tian-qi;ZHOU Bei-ping

作者机构：南京信息工程大学江苏省气象灾害预报预警与评估协同创新中心江苏南京210044 南京信息工程大学中国气象局气溶胶与云降水重点开放实验室江苏南京210044 南京市气象局南京市气象服务中心江苏南京210009 南京信息工程大学大气科学学院江苏南京210044 

基　　金：国家自然科学基金项目(41175003) 江苏高校优势学科建设工程资助项目(PAPD) 南京市气象科研开发项目(NJ201408) 

出 版 物：《仪表技术与传感器》 (Instrument Technique and Sensor)

年 卷 期：2014年第8期

页      码：95-97,110页

摘      要：针对氧化锌压敏电阻(Metal Oxide Varistor,MOV)芯片在实际工作环境中会遭受过电压作用问题,设计了暂态过电压预处理后MOV耐受冲击老化试验,研究了不同幅值工频交流暂态过电压5 s作用下MOV芯片耐冲击老化性能变化。试验结果表明:MOV芯片经暂态过电压预处理后压敏电压升高,耐8/20μs电流波冲击次数增多;暂态过电压预处理后芯片冲击过程中压敏电压呈现下降-保持-下降过程,与未经预处理芯片压敏电压变化过程有所不同。结合双肖特基势垒导电机理推论出工频交流瞬时过电压作用下,氧化锌晶界两侧势垒高度变化过程,并经过试验数据分析证明此推论的合理性。为研究暂态过电压对MOV冲击性能影响及生产厂家预老化工艺的合理性提供试验依据。

主 题 词：暂态过电压 氧化锌压敏电阻 8 20μs冲击性能 预处理 双肖特基导电机理 压敏电压 

学科分类：0808[工学-自动化类] 080803[080803] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-1841.2014.08.031

馆 藏 号：203115075...