基于C#的频谱分析仪通用自动测试系统设计与研究

作     者：赵洋 李平 马晖 卜云萍 王毅 

作者机构：中国洛阳电子装备试验中心河南洛阳471003 

出 版 物：《电光系统》 (Electronic and Electro-optical Systems)

年 卷 期：2015年第4期

页      码：43-46页

摘      要：文章介绍了基于c#的频谱分析仪通用自动测试系统设计方法与应用研究。重点解决远端程控操作并实时动态显示频谱分析仪测试结果的技术难题；针对不同生产厂家频谱分析仪控制指令存在差异，通过SQLSever数据库技术研究解决被测设备型号繁杂应用程序无法统一自动测试的难题；以控制过程和具体设备型号分离的方法，解决自动控制和具体设备型号紧耦合的技术难题。

主 题 词：频谱分析仪 自动测试系统 C# SQL Sever 多台控制 

学科分类：080602[080602] 08[工学] 0806[工学-电气类] 

馆 藏 号：203115127...