基于随机三层环形子电路的路径级NBTI老化预测

作     者：徐辉 朱瑞 孙侠 何富贵 XU Hui;ZHU Rui;SUN Xia;HE Fu-gui

作者机构：安徽理工大学计算机科学与工程学院安徽淮南232001 安徽理工大学数学与大数据学院安徽淮南232001 皖西学院电子与信息工程学院安徽六安237012 

基　　金：国家自然科学基金面上项目(61874156 61404001) 

出 版 物：《齐齐哈尔大学学报（自然科学版）》 (Journal of Qiqihar University(Natural Science Edition))

年 卷 期：2022年第38卷第6期

页      码：27-34页

摘      要：纳米工艺水平下,电路可靠性成为电路设计的重要问题。其中,老化又是电路可靠性的主要威胁之一。所以,为了制定老化缓解措施,评估老化以避免电路故障变得至关重要。提出了一种基于随机三层环形子电路的路径级老化预测框架,该框架将NBTI效应作为一种诱导退化机制得到三层环形子电路10年内老化延时,并使用线性回归模型对其老化延时趋势进行学习。之后,基于该模型,可以快速得到电路关键路径的老化延时。实验结果表明,提出的框架在保证精度的同时,时间效率也有较大的提升。

主 题 词：老化预测 NBTI 随机三层环形子电路 线性回归 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1007-984X.2022.06.006

馆 藏 号：203115488...