一种具备MBIST功能的Flash型FPGA配置芯片设计

作     者：柯志鸣 党堃原 单宝琛 丛红艳 KE Zhiming;DANG Kunyuan;SHAN Baochen;CONG Hongyan

作者机构：中微亿芯有限公司江苏无锡214072 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2022年第22卷第11期

页      码：36-41页

摘      要：Flash型FPGA配置芯片相较于反熔丝配置芯片和可擦除可编程只读存储器(EPROM)型配置芯片,具有非易失性、功耗低、安全性高、可多次编程等更优异的特点。设计了一款具备存储器内建自测试(MBIST)功能的Flash型FPGA配置芯片,在March C-的基础上,提出了一种更全面的测试算法,该算法可以有效提高测试故障覆盖率,并且自身会对测试结果的正确性进行判断,从而快速有效地对Flash功能的正确性进行检验。由于Flash具有非易失性、集成度高等特点,且设计具备MBIST功能,该配置芯片可以满足复杂场景及广泛的应用需求。

主 题 词：Flash型配置芯片 MBIST 非易失性 FPGA 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1103

馆 藏 号：203115553...