基于ATE的MCU芯片工程化量产测试关键技术

作     者：毛景雄 岳龙 邓艺华 陆裕东 李汝冠 江雪晨 MAO Jing-xiong;YUE Long;DENG Yi-hua;LU Yu-dong;LI Ru-guan;JIANG Xue-chen

作者机构：广州广电计量检测股份有限公司 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2022年第31卷第12期

页      码：84-89页

摘      要：微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)是嵌入式系统的重要组成部分,渗透到消费、工业和汽车电子等行业中,遍布生活中各行各业。MCU的工程化量产过程包括设计、制造、封装、测试等多个环节,其中芯片的测试贯穿所有环节。本文对MCU测试过程中,对测试方法在各环节中的应用,测试平台设备的选择、测试软硬件开发、测试数据收集与分析三大环节中的关键技术性问题进行了简述。

主 题 词：MCU测试 工程化与量产 测试硬件设计 程序开发调试 测试数据分析 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2022.12.015

馆 藏 号：203115633...