基于高频光电导法半导体少数载流子寿命测量系统的设计与实现

作     者：赵昭 高子兴 李洁 ZHAO Zhao;GAO Zi-xing;LI Jie

作者机构：中国电子技术标准化研究院北京100176 

出 版 物：《宇航计测技术》 (Journal of Astronautic Metrology and Measurement)

年 卷 期：2022年第42卷第5期

页      码：38-43页

摘      要：基于高频光电导衰减法半导体少数载流子寿命测量基本原理,设计了半导体少子寿命测量系统,并在二极管检波电路的基础上,对信号处理系统进行了改进。该信号处理系统采用反馈式检波电路,相比于传统二极管检波电路,运用运算放大器的反馈原理减小了检波二极管压降产生的误差,同时结合二极管嵌位作用,减小了运算放大器压摆率带来的影响,提高了测量系统的检波能力。通过实验,验证了该检波电路的可行性,测试结果表明,有效提升了测量系统的准确性。

主 题 词：高频光电导衰减法 少子寿命 信号处理 运算放大器 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.12060/j.issn.1000-7202.2022.05.08

馆 藏 号：203115730...