附加静态功耗电流测试与系统设计者的关系

作     者：邵金仙 

作者机构：中国航天工业总公司七七一所 

出 版 物：《微电子测试》 (Electronic Test)

年 卷 期：1996年第10卷第1期

页      码：17-21页

摘      要：本文论述了温度对器件可靠性的影响、附加静态功耗电流I_(CC△)的概念、I_(CC△)的产生机理以及影响I_(CC△)的内外部因素。提醒电子系统设计者必须对HCT系列电路的I_(CC△)引起重视,确保系统的可靠性。

主 题 词：半导体器件 场效应器件 功耗电流 附加静态 测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

馆 藏 号：203116243...