影像测量系统的精密校正方法研究及其应用

作     者：邹华东 祝良荣 陶文勇 Zou Huadong;Zhu Liangrong;Tao Wenyong

作者机构：浙江工业职业技术学院浙江绍兴312000 

基　　金：浙江省科技厅资助(2008c30025) 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2010年第18卷第9期

页      码：2057-2059页

摘      要：介绍了两种应用于影像测量系统的精密图像校正及其实现方法;不同的系统校正方法不同时所需要特征点的不同,需要设计并制作精密的标靶件作为比对参照对象,根据系统需求研发设计了两种精密校正样板,并介绍其使用方法;在此基础上,介绍了两种校正方法的基本校正原理及其算法。触摸式投影仪中,采用单筒显微镜头,其成像畸变较小,采用非线性的精密校正方法校正后,其重复测量精度为2μm.大视场影像测量仪中,采用线性校正方法,仪器重复测量精度为10μm,采用非线性校正的方法补偿了镜头的成像畸变后,重复测量精度为2 m以上;以上实验表明,两种精密校正方法的应用提高了仪器的检测精度。

主 题 词：精密校正 线性校正 非线性校正 校正系数 特征点对 影像测量 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2010.09.036

馆 藏 号：203116418...