多重Syndrome测试及其测试仪

作     者：王芳雷 王积杰 

作者机构：上海科学技术大学 

出 版 物：《计算机学报》 (Chinese Journal of Computers)

年 卷 期：1990年第13卷第11期

页      码：846-852页

摘      要：本文介绍一种可对Syndrome不可测电路进行Syndrome测试的多重Syndrome测试技术,它以重复多次的Syndrome测试替代了常规的要求增加控制线和管脚的Syndrome可测试设计技术,文中介绍多重Syndrome测试的工作原理及具体设计、计算方法,最后分别提出用硬件实现的Syndrome测试仪及基于Z-80单板机通过软件实现的多重Syndrome测试仪的设计方案。

主 题 词：故障测试 测试仪 逻辑电路 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

馆 藏 号：203117395...