嵌入式系统性能评测技术

作     者：徐钦桂 李勇 Xu Qingui;Li Yong

作者机构：东莞理工学院计算机系广东东莞523106 

出 版 物：《东莞理工学院学报》 (Journal of Dongguan University of Technology)

年 卷 期：2005年第12卷第1期

页      码：30-36页

摘      要：嵌入式系统与应用和市场密切关联,其设计受成本、功耗、芯片体积和开发周期等多种因紊的制约,嵌入式系统的性能在满足应用需求的条件下,其性能冗余量不宜太大。在产品开发周期内,以尽可能低的原材料成本和开发成本设计具有适当性能的嵌入式系统,是嵌入式系统项目成功的关键。为此,需要对嵌入式微处理器进行性能评测和分析,作为嵌入式系统性能设计的依据。本文介绍了嵌入式系统性能测试的基本原理、测试方法,描述了多种嵌入式系统性能评测基准及其适用范围。在此基础上,对嵌入式系统性能评测的局限性及发展趋势进行了综合评价。

主 题 词：嵌入式系统 性能评测 嵌入式微处理器 冗余 项目成功 芯片 性能测试 开发成本 应用需求 原材料成本 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1009-0312.2005.01.007

馆 藏 号：203117762...