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BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计

BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计

作     者:张雄 梁昊 虞孝麒 周永钊 ZHANG Xiong;LIANG Hao;YU Xiao-qi;ZHOU Yong-zhao

作者机构:中国科学技术大学近代物理系合肥230027 

出 版 物:《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期:2009年第29卷第6期

页      码:1331-1333,1352页

摘      要:主要阐述BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计,主要内容包括对VME控制扇出插件控制芯片FPGA的固件进行优化,并且设计了相关实验来对优化方案进行测试。

主 题 词:BESⅢ Muon电子学 VME 控制扇出 FPGA 固件 优化 

学科分类:082704[082704] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录:

D O I:10.3969/j.issn.0258-0934.2009.06.021

馆 藏 号:203117865...

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