一种TCON自动测试系统的设计与实现

作     者：杨柳 邵寅亮 唐清善 

作者机构：长沙理工大学物理与电子科学学院湖南长沙410114 北京凯视达科技股份有限公司北京100000 

出 版 物：《今日制造与升级》 (Manufacture & Upgrading Today)

年 卷 期：2022年第11期

页      码：171-174页

摘      要：目前,在实际生产中对于时序控制器的质检仍采用人工检测的方式,测试效率低下,严重制约了液晶显示器的后道生产。针对此问题,提出了一种新的自动测试方案,以围绕现场可编程门阵列设计的测试母板为核心,结合工控主机与可编程逻辑器件,在生产实践的基础上,给出了新型测试系统的具体设计思路,并且按照此设计思路制造了一套新型的测试系统。生产应用的结果表明,相比传统的测试方案,新型的测试系统在效率性,可靠性方面有着显著的优势,能极大提升检测效率,降低人工成本,具备良好的推广价值。

主 题 词：时序控制器 自动测试系统 液晶显示器 FPGA 

学科分类：0711[理学-心理学类] 07[理学] 081104[081104] 08[工学] 0811[工学-水利类] 071102[071102] 081103[081103] 

馆 藏 号：203117903...