半导体器件失效案例统计与综合分析

作     者：范士海 FAN Shi-hai

作者机构：航天科工防御技术研究试验中心 

出 版 物：《环境技术》 (Environmental Technology)

年 卷 期：2010年第28卷第5期

页      码：50-54页

摘      要：电子元器件是电子产品最基本的组成部分,而半导体器件通常又是关键与核心器件;半导体器件失效数占电子元器件总失效数的一半以上。本文针对半导体器件的失效案例进行筛选、汇总,按照失效类别、失效模式和失效原因进行分类统计,并对统计数据进行分析;其结果可以为从事元器件质量管理、元器件研制、采购和整机设计人员在元器件研制、采购、试验、选用和使用等全过程控制半导体器件失效提供重要的参考数据。

主 题 词：半导体器件 失效案例 失效类别 失效模式 失效原因 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-7204.2010.05.012

馆 藏 号：203117964...