多DDS并行伪差值合成的相位截断误差分析

作     者：刘科 田书林 肖寅东 LIU Ke;TIAN Shu-lin;XIAO Yin-dong

作者机构：电子科技大学自动化工程学院四川成都611731 

基　　金：国家自然科学基金(60772145) 新世纪优秀人才支持计划(NCET-06-0808) 电子科技大学青年科技基金资助项目 

出 版 物：《计量学报》 (Acta Metrologica Sinica)

年 卷 期：2011年第32卷第6期

页      码：544-549页

摘      要：对理想多DDS伪插值信号的原理与频谱分布进行分析，建立了相位截断情况下的多DDS伪插值系统模型，在此模型基础上对相位截断杂散频谱进行分析与计算，给出相位截断频谱杂散的分布规律和幅度大小，得出关于杂散谱线数量、分布规律及频率控制字选择依据的一些结论，并利用计算机仿真与硬件实验对不同参数时的相位截断频谱杂散进行验证。这些分析可用于伪插值DDS信号源或时钟发生器设计中的杂散评估与方案选择及指标分配提供理论依据。

主 题 词：计量学 相位截断 伪插值 杂散 直接数字合成 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0703[理学-化学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-1158.2011.06.14

馆 藏 号：203118007...